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ZEISS Xradia 810 Ultra納米CT

產(chǎn)品信息
產(chǎn)品類別:蔡司工業(yè)CT
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產(chǎn)品詳情

擴(kuò)展非破壞性納米尺度成像的范圍和價(jià)值

  使用蔡司Xradia 810 Ultra X射線顯微鏡實(shí)現(xiàn)低至50 nm的空間分辨率,這是基于實(shí)驗(yàn)室的X射線成像系統(tǒng)中最高的。 通過非破壞性3D成像體驗(yàn)無與倫比的性能和靈活性,在當(dāng)今的突破性研究中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。 創(chuàng)新的Xradia Ultra架構(gòu)采用獨(dú)特的X射線光學(xué)系統(tǒng),采用同步加速器技術(shù),具有吸收和相位對(duì)比。 現(xiàn)在能量為5.4 keV,您可以將納米級(jí)成像的吞吐量提高10倍。使用Xradia 810 Ultra的低能量,為中低Z樣品實(shí)現(xiàn)更好的對(duì)比度和圖像質(zhì)量。 期望在不同條件下實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的原位和4D能力,以研究結(jié)構(gòu)演變。 利用3D X射線成像擴(kuò)展材料研究,生命科學(xué),自然資源和各種工業(yè)應(yīng)用的探索極限。

  最高分辨率,更高對(duì)比度,更快

  蔡司解決方案在實(shí)驗(yàn)室儀器中提供世界上唯一的非破壞性3D X射線成像,分辨率低至50 nm。除了吸收和Zernike相位對(duì)比外,蔡司Xradia 810 Ultra采用了從同步加速器改進(jìn)的先進(jìn)光學(xué)系統(tǒng),為您的研究提供業(yè)界最佳的分辨率和對(duì)比度。這種創(chuàng)新儀器通過為您的傳統(tǒng)成像工作流程添加關(guān)鍵的非破壞性步驟,實(shí)現(xiàn)了突破性研究。

  通過為5.4 keV的研究提供更高的對(duì)比度,Xradia 810 Ultra可以為各種難以成像的材料提供高分辨率的X射線成像。通過吸收和相襯來優(yōu)化您的成像,適用于各種材料,如聚合物,氧化物,復(fù)合材料,燃料電池,地質(zhì)樣品和生物材料。 ZEISS XRM在同步加速器和全球知名實(shí)驗(yàn)室設(shè)施中率先進(jìn)行了納米級(jí)X射線成像,提供了突破性的解決方案,幫助您將研究放在研究的最前沿。

  通過使納米級(jí)X射線成像速度提高一個(gè)數(shù)量級(jí),Xradia 810 Ultra可以優(yōu)化XRM的商業(yè)案例,無論您的工作是針對(duì)科學(xué)還是工業(yè)。對(duì)于中央顯微鏡實(shí)驗(yàn)室而言,更快的工作流程轉(zhuǎn)化為允許更多用戶在更短的時(shí)間內(nèi)利用儀器的能力,從而將XRM擴(kuò)展到更廣泛的用戶群。同樣,您可以快速執(zhí)行和重復(fù)內(nèi)部結(jié)構(gòu)的4D和原位研究,使這些技術(shù)適用于更多應(yīng)用。如果您的應(yīng)用非常有針對(duì)性,例如用于探索石油和天然氣開采可行性的數(shù)字巖石物理,Xradia 810 Ultra可提供可用于在幾小時(shí)內(nèi)表征關(guān)鍵參數(shù)(如孔隙度)的測(cè)量數(shù)據(jù)。

  優(yōu)點(diǎn)

  •   在實(shí)驗(yàn)室中可獲得的最高分辨率 - 低至50納米的3D X射線成像
  •   非破壞性3D X射線成像允許對(duì)同一樣品進(jìn)行重復(fù)成像,以便直接觀察微觀結(jié)構(gòu)的演變
  •   吸收和Zernike相位對(duì)比成像各種材料 - 中等到低Z,碳酸鹽到頁巖,組織到生物力學(xué) - 在納米尺度上快10倍
  •   無需研究人員對(duì)同步加速器的有限訪問或使同步加速器時(shí)間更有效的挑戰(zhàn),您的實(shí)驗(yàn)室就會(huì)產(chǎn)生同步加速器
  •   基于更快的圖像采集時(shí)間提高經(jīng)濟(jì)效益,將中心顯微鏡實(shí)驗(yàn)室的范圍擴(kuò)大到更廣泛的研究人員
  •   可切換的視野范圍為16至65μm,最適合您的成像需求
  •   在原位設(shè)備內(nèi)對(duì)樣品進(jìn)行成像時(shí)保持高分辨率
  •   用于斷層攝影重建的自動(dòng)圖像對(duì)準(zhǔn)
  •   在您的實(shí)驗(yàn)室中開發(fā),準(zhǔn)備和測(cè)試您計(jì)劃的同步加速器實(shí)驗(yàn),以提高同步加速器光束時(shí)間的有效性
  •   現(xiàn)在,Scout-and-Scan控制系統(tǒng)具有簡單的基于工作流程的用戶界面,非常適合中央成像實(shí)驗(yàn)室,用戶可以擁有各種各樣的經(jīng)驗(yàn)水平
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